搜索內容
文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間:2024-09-03 瀏覽數量:
2022年8月,汽車電子委員會(AEC)正式發布了全新的AEC-Q102-003光電多芯片模組(OE-MCMs)認證標準。這一標準的出臺,旨在對日益增長的光電模組認證需求提供全面的規范和指導,特別是在現有AEC-Q104多芯片模組的基礎上,進一步細化了含有光電組件的多芯片模組的測試細節。
AEC-Q102-003標準定義的OE-MCMs包含至少一種光電器件,并由多個有源或無源器件構成。這些子組件通過焊接或膠粘方式連接到線路板上,構成復雜電路,最終封裝在單個多芯片模組內。這些模組廣泛應用于矩陣前照燈、智能RGB LED及紅外傳感器(如激光雷達模組)等產品中。
需要特別注意的是,OE-MCMs的認證應當涵蓋整個模組,而不僅僅是其中的某一子組件。如果某產品僅以OE-MCM形式通過認證,模組中的任何單個子組件都不能單獨被視為通過AEC認證。
根據標準,OE-MCMs被分為五種常見類型:
- Type A: 由不同家族光電器件組成,如紅外線反射式光電開關。
- Type B: 光電器件利用其內部光電信號功能組成,如光耦、光柵傳感器。
- Type C: 由光電器件與其他IC器件組成,如RGB LED燈。
- Type D: 光電器件和其他芯片不可分割組成,如矩陣式LED頭燈。
- Type E: 包含光電器件的IC封裝,如CMOS傳感器。
- Type F: 帶有光電和其他子組件的PCB或基板,直接連接到電路板,如脈沖激光模組。
OE-MCM的認證流程包含多個步驟,旨在確保模組中所有子組件的失效機理、連接性能及相互作用都得到全面測試。具體步驟如下:
1. 超集認證測試創建: 針對一個完整OE-MCM創建超集認證測試。如果OE-MCM中包含IC、分立半導體器件、光電器件或MEMS器件,相應的AEC-Q100、Q101、Q102或Q103測試應包含在超集測試中。同時,還需針對整個OE-MCM模組進行板級可靠性、X-Ray和超聲波掃描等特定測試。
2. 合并相同失效機理測試: 將超集中相同失效機理的測試項合并為一組,以簡化測試流程。
3. 評估測試覆蓋性: 評估是否可以用一個測試條件和時間覆蓋所有的測試項目,并確保測試條件不超過模組產品規格書規定的范圍。
4. 使用通用數據和替代測試: 在條件允許的情況下,可使用通用數據或子組件級別的認證測試作為替代測試,但封裝相關的測試認證仍必須在OE-MCM級別完成。
5. 執行剩余超集測試: 對未在前幾步中省略的所有超集測試進行驗證。
在認證過程中,失效判據包括不符合OE-MCM規范、整體模組及單獨芯片的性能漂移超出允許值等。樣品數量方面,認證所需的樣本數量在超集定義文件中有明確規定,對于復雜的OE-MCM,可以在供應商和用戶協商后適當減少樣本數量。
AEC-Q102-003認證標準的頒布,為光電多芯片模組(OE-MCMs)的測試和認證提供了詳盡的指導。優科檢測作為專業的第三方AEC-Q102認證機構,實驗室具備AEC-Q102標準CNAS全項測試資質和能力,可為LED、光電二極管、激光元件等提供全方位的車規認證試驗服務。我們將繼續為LED行業提供一流的技術支持,確保產品質量的可靠性與安全性。
獲取報價
*公司名稱
*您的姓名
*您的手機
*您的需求
為了您的權益,您的信息將被嚴格保密
如果您對我司的產品或服務有任何意見或者建議,您可以通過這個渠道給予我們反饋。您的留言我們會盡快回復!