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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2022-05-11 瀏覽數量：
對于元器件來說，高低溫測試是十分重要的一個測試項目，半導體當然也囊括其中，作為半導體高低溫測試第三方檢測機構，廣東優科檢測將為您講解該測試的相關信息，希望對您有所幫助！
用于測試半導體在瞬間下經高溫或較低溫的連續環境下忍受的程度，得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。
1.GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》
2.GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》
3.GB/T 2423.3-2006《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗》
4.GB/T 2423.4-2008《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環）》
5.GB/T 2423.22-2008《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化》
6.GB/T 5170.1-2008《電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則》
1、半導體高低溫測試裝置的電源采用三相四線制，電源線連接電源線、零線和地線。用電控箱上的穿孔將機組的主電源線連接到箱內的接線柱上，確保連接緊密。
2、主電源電壓：在額定電壓要求范圍內。
3、當主電源電壓波動超過規定范圍時，不允許啟動半導體高低溫測試裝置，否則視為操作不當。
4、半導體高低溫測試裝置設有電流過載保護、壓縮機排氣端高低壓保護、電機線圈過熱保護、防冰保護、冷卻水流量聯鎖保護等措施和控制電路。
1. 獨立第三方檢測、檢驗和認證之實驗室，我們秉承公正、科學、精確、專業、高效、高品質及創新的服務宗旨竭誠為客戶服務，成為備受全球依賴的合作伙伴。
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廣東優科檢測是已獲得CNAS和CMA資質認可的第三方檢測機構，自有獨立檢測實驗室，可提供半導體高低溫測試等環境可靠性檢測服務，并出具CNAS檢測報告，我們竭誠為您服務！
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